Фотомикрометр 3D
Высокоточная фотограмметрическая система
мониторинга трещин и деформационных швов
в зданиях и сооружениях

Фотограмметрический щелемер (сокращенно - фотощелемер, иначе - фотомикрометр) - это аппаратно-программный комплекс для высокоточного трехмерного мониторинга трещин, технологических зазоров или деформационных швов.
Преимущества технологии
-
Дистанционный метод измерения трещин и деформаций
-
Высокая точность (до 0,005 мм) измерений
-
Получение величин смещения по трем координатным осям
-
Полная автоматизация процесса мониторинга
-
Визуализация величин смещения по времени
-
Невысокая стоимость компонентов
Состав системы
Основные компоненты комплекса "Фотомикрометр 3D"

Фотограмметрический маяк
Набор специальных фотомаяков для мониторинга трещин и деформационных швов
Каждый маяк состоит из 2-х пластин (маркеров), с нанесенным на них специальным рисунком с уникальным номером. Пластины закрепляются по обе стороны от трещины или деформационного шва.
Фотомаяк является одним из трех основных компонентов системы, который выполняет следующие основные функции:
- фиксация места мониторинга;
- задание масштаба и системы координат мониторинга;
- содержит исходные данные для фотограмметрической калибровки снимков.
Типы фотомаяков (классификация, изготовление, крепление)

Цифровой фотоаппарат
Практически любой
Для съемки фотомаяков подходит любая современная фотокамера с оптическим увеличением достаточным для конкретных условий съемки.
Предварительная калибровка фотоаппарата не требуется.
Безусловно, имеет значение какую фотокамеру вы выберете для съемки маяков на близком и дальнем расстоянии.
Требования к фотокамере. Способы съемки

Программа "Photomicrometer"
Разработка компании.
Фотограмметрическая система мониторинга трещин и деформационных швов.
Photomicrometer - фотограмметрическая программа специально разработанная для работы в составе системы мониторинга и реализующая полный цикл обработки – от измерений снимков до формирования технического отчета. Благодаря высокому уровню автоматизации всех процессов, для освоения работы с системой не обязательно иметь глубокие знания по фотограмметрии.
PhotoMicrometer может работать как по одиночным снимкам (фотограмметрический метод), так и по нескольким снимкам (стереофотограмметрический метод). Программа поддерживает работу с фотомаяками различных типов (классов точности), перестраивая интерфейс с учетом данного параметра.
ОРГАНИЗАЦИЯ ДАННЫХ, РЕЗУЛЬТАТЫ РАСЧЕТОВ И ИХ ОЦЕНКИ
Принцип работы системы
система адаптирована для применения специалистами
по обследованию и эксплуатации зданий и сооружений
не требует специальных знаний по фотограмметрии
Работа системы PhotoMicrometer основана на теоретически строгих методах фотограмметрии: высокоточный алгоритм измерения марок, прямая и обратная фотограмметрические засечки с одновременной калибровкой снимков и уравниванием определяемых параметров по методу наименьших квадратов. Благодаря теоретически строгим и технически продвинутым алгоритмам решения для работы с системой можно использовать практически любую цифровую фотокамеру. При этом нет необходимости предварительно выполнять ее калибровку.



Технические характеристики
определяющие показатели комплекса "Фотомикрометр 3D"

Величина определяемых деформаций или перемещений:
от 0 до 10 см по каждой из координатных осей (при взаимных смещениях маяков, превышающих 3 см, при съемке необходимо соблюдать определенные правила).
Подробнее...

Точность определения пространственных перемещений и деформаций:
от 0.005 до 0.02 мм (зависит от расстояния и ракурсов съемки, параметров камеры). Результаты оценки точности фотограмметрических определений приводятся в отчете, формируемом программой.
Подробнее...

Расстояния фотосъемки:
нет необходимости использования автомобильных вышек и других подъемных устройств для выполнения точных замеров, можно снимать с расстояния: фотограмметрический метод – от 0.1 до 0.3 м; стереофотограмметрический метод – от 0.1 до 40 м.
Подробнее...
стоимость фотомикрометра
СПЕЦИФИКАЦИЯ
поставляемого оборудования и программного обеспечения, входящего в состав фотограмметрической системы Фотощелемер 3D, предназначенной для мониторинга трещин и деформационных швов в зданиях и сооружениях.M-0.1 (2 шт.) для установки по обе стороны трещины
Точность определения деформаций или перемещений по каждой координатной оси — 0.1 мм. (СКО)
Поставляется с файлом калибровки.
1 100 руб.
Оформить заказM-0.02 (2 шт.) для установки по обе стороны трещины
Точность определения деформаций или перемещений по каждой координатной оси — 0.02 мм. (СКО)
Поставляется с файлом калибровки.
2 000 руб.
Оформить заказM-0.005 (2 шт.) для установки по обе стороны трещины
Точность определения деформаций или перемещений по каждой координатной оси — 0.005 мм. (СКО)
Поставляется с файлом калибровки.
3 200 руб.
Оформить заказПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
PhotoMicrometer. Программа позволяет вести автоматизированную обработку снимков фотограмметрических марок, закрепленных по обе стороны трещины и выполнять оценку их взаимного положения, а также смещений и деформаций в трехмерной системе координат. Комплект поставки включает дистрибутив П/О и электронный ключ. (Стоимость указана без НДС).контактная информация

Адрес:
190020, г. Санкт-Петербург,Старо-Петергофский проспект, 44;
Номер телефона:
тел./факс: (812) 252-02-08
моб.тел: +7 (812) 992-26-85
Электронная почта:
Полезные материалы

Деформация зданий или инженерных сооружений происходит под действием внешней силы (нагрузки). Она приводит к изменению формы объекта или перемещению частиц его материала. Если нагрузка не превышает
Статьи Подробнее...

Марки для мониторинга трещин поверяются и эти данные заносятся непосредственно в их паспорта. А что Вы скажете по поводу фотоаппаратуры, которой проводятся измерения? Эта необходимость
Вопросы-ответы Подробнее...

ВОПРОС: Необходимо ли фиксировать точку стояния камеры (места съемки) каждый раз? ОТВЕТ: Лучше, конечно, снимать с одной точки стояния. Но мы же понимаем, что это довольно большой "минус"
Вопросы-ответы Подробнее...

ВОПРОС: Можно ли увеличить расстояние съемки (больше указанных 40 метров), если использовать камеры с бОльшим фокусным расстоянием? В статье/выступлении было отмечено: "Представляемая система
Вопросы-ответы Подробнее...