190020, г. Санкт-Петербург, Старо-Петергофский пр., 44
АНОНС Photomicrometer 1D/2D. Фотограмметрические методы и технологии мониторинга трещин

Выступление генерального директора НПП "Фотограмметрия" А.Е. Войнаровского на XI yаучно-практическая конференция "Обследование зданий и сооружений: проблемы и пути их решения" с докладом "Фотограмметрические методы и технологии мониторинга трещин. Опыт применения, новые...

конференция, доклад, видео, Photomicrometer 2D, PhotoMicrometer 2D/1D, 2D/1D

Разработка — А.Войнаровский, А.Леонтьева. Copyright © 2015-2023 «НПП «Фотограмметрия». Все права защищены.